| Hersteller-Teilenummer | SN74BCT8373ADWR |
|---|---|
| Hersteller | Texas Instruments |
| Produktkategorie | Logik - Speziallogik |
| verfügbare Anzahl | 146540 Pieces |
| Stückpreis | Zitat per E-Mail ([email protected]) |
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC |
| Bleifreier Status / RoHS-Status | Bleifrei / RoHS-konform |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Produktionsstatus (Lebenszyklus) | In Production |
| Lieferzeit | 1-2 Days |
| Datumscode (D / C) | New |
| Datenblatt herunterladen | SN74BCT8373ADWR.pdf |
| Artikelnummer | SN74BCT8373ADWR |
|---|---|
| Hersteller lieferzeit | 6-8 weeks |
| Bedingung | New & Unused, Original Sealed |
| Teilstatus | Obsolete |
| Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Versorgungsspannung | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Paket / Fall | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Lieferantengerätepaket | 24-SOIC |
| Gewicht | 0.001 KG |
| Anwendung | Email for details |
| Ersatzteil | SN74BCT8373ADWR |
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