Hersteller-Teilenummer | SN74BCT8374ANT |
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Hersteller | Texas Instruments |
Produktkategorie | Logik - Speziallogik |
verfügbare Anzahl | 106090 Pieces |
Stückpreis | Zitat per E-Mail ([email protected]) |
Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP |
Bleifreier Status / RoHS-Status | Bleifrei / RoHS-konform |
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL) | 1 (Unlimited) |
Produktionsstatus (Lebenszyklus) | In Production |
Lieferzeit | 1-2 Days |
Datumscode (D / C) | New |
Datenblatt herunterladen | SN74BCT8374ANT.pdf |
Artikelnummer | SN74BCT8374ANT |
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Hersteller lieferzeit | 6-8 weeks |
Bedingung | New & Unused, Original Sealed |
Teilstatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Versorgungsspannung | 4.5 V ~ 5.5 V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / Fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Lieferantengerätepaket | 24-PDIP |
Gewicht | 0.001 KG |
Anwendung | Email for details |
Ersatzteil | SN74BCT8374ANT |
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