| Número de pieza del fabricante | SN74BCT8374ADW |
|---|---|
| Fabricante | Texas Instruments |
| categoria de producto | Lógica - Lógica de especialidades |
| Cantidad disponible | 156800 Pieces |
| Precio unitario | Cotizar por correo electrónico ([email protected]) |
| Descripción | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| Estado sin plomo / Estado RoHS | Sin plomo / Cumple con RoHS |
| Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Estado de producción (ciclo de vida) | In Production |
| El tiempo de entrega | 1-2 Days |
| Código de fecha (D / C) | New |
| Descargar hoja de datos | SN74BCT8374ADW.pdf |
| Número de pieza | SN74BCT8374ADW |
|---|---|
| Fabricante plazo de ejecución | 6-8 weeks |
| Condición | New & Unused, Original Sealed |
| Estado de la pieza | Active |
| Tipo de lógica | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Voltaje de suministro | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Cantidad de bits | 8 |
| Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
| Tipo de montaje | Surface Mount |
| Paquete / caja | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Paquete de dispositivo del proveedor | 24-SOIC |
| Peso | 0.001 KG |
| Solicitud | Email for details |
| Repuesto | SN74BCT8374ADW |
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