Texas Instruments Distributore www.qycomp.com SN74BCT8374ADWR
Numero di parte del produttoreSN74BCT8374ADWR
fabbricanteTexas Instruments
Categoria di prodottoLogici - Logica speciale
Quantità disponibile14140 Pieces
Prezzo unitarioPreventivo per email ([email protected])
DescrizioneIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Stato senza piombo / Stato RoHSSenza piombo / RoHS
Moisture Sensitivity Level (MSL) 1 (Unlimited)
Stato di produzione (ciclo di vita)In Production
Tempo di consegna1-2 Days
Data Code (D / C)New
Scarica il foglio dati SN74BCT8374ADWR.pdf

Caratteristiche del prodotto

Numero di parte SN74BCT8374ADWR
Tempo di consegna del produttore 6-8 weeks
Condizione New & Unused, Original Sealed
Stato parte Obsolete
Tipo di logica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensione di alimentazione 4.5 V ~ 5.5 V
Numero di bit 8
temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio Surface Mount
Pacchetto / caso 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore 24-SOIC
Peso 0.001 KG
Applicazione Email for details
Pezzo di ricambio SN74BCT8374ADWR

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Texas Instruments Distributore

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