제조업체 부품 번호 | SN74BCT8240ANTG4 |
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제조사 | Texas Instruments |
제품 카테고리 | 논리 - 특수 논리 |
사용 가능한 수량 | 155430 Pieces |
단가 | 이메일로 견적 ([email protected]) |
기술 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 |
수분 민감도 (MSL) | 1 (Unlimited) |
생산 상태 (수명주기) | In Production |
배달 시간 | 1-2 Days |
날짜 코드 (D / C) | New |
데이터 시트 다운로드 | SN74BCT8240ANTG4.pdf |
부품 번호 | SN74BCT8240ANTG4 |
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제조업체 리드 타임 | 6-8 weeks |
조건 | New & Unused, Original Sealed |
부품 상태 | Obsolete |
논리 유형 | Scan Test Device with Inverting Buffers |
전원 전압 | 4.5 V ~ 5.5 V |
비트 수 | 8 |
작동 온도 | 0°C ~ 70°C |
실장 형 | Through Hole |
패키지 / 케이스 | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
공급 업체 장치 패키지 | 24-PDIP |
무게 | 0.001 KG |
신청 | Email for details |
교체 부품 | SN74BCT8240ANTG4 |
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