Hersteller-Teilenummer | 8V182512IDGGREP |
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Hersteller | Texas Instruments |
Produktkategorie | Logik - Speziallogik |
verfügbare Anzahl | 44710 Pieces |
Stückpreis | Zitat per E-Mail ([email protected]) |
Beschreibung | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Bleifreier Status / RoHS-Status | Bleifrei / RoHS-konform |
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL) | 1 (Unlimited) |
Produktionsstatus (Lebenszyklus) | In Production |
Lieferzeit | 1-2 Days |
Datumscode (D / C) | New |
Datenblatt herunterladen | 8V182512IDGGREP.pdf |
Artikelnummer | 8V182512IDGGREP |
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Hersteller lieferzeit | 6-8 weeks |
Bedingung | New & Unused, Original Sealed |
Teilstatus | Active |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Versorgungsspannung | 2.7 V ~ 3.6 V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / Fall | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Lieferantengerätepaket | 64-TSSOP |
Gewicht | 0.001 KG |
Anwendung | Email for details |
Ersatzteil | 8V182512IDGGREP |
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