Texas Instruments Distribuidor www.qycomp.com SN74BCT8374ADWRE4
Número de pieza del fabricanteSN74BCT8374ADWRE4
FabricanteTexas Instruments
categoria de productoLógica - Lógica de especialidades
Cantidad disponible71500 Pieces
Precio unitarioCotizar por correo electrónico ([email protected])
DescripciónIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado sin plomo / Estado RoHSSin plomo / Cumple con RoHS
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) 1 (Unlimited)
Estado de producción (ciclo de vida)In Production
El tiempo de entrega1-2 Days
Código de fecha (D / C)New
Descargar hoja de datos SN74BCT8374ADWRE4.pdf

Atributos del producto

Número de pieza SN74BCT8374ADWRE4
Fabricante plazo de ejecución 6-8 weeks
Condición New & Unused, Original Sealed
Estado de la pieza Obsolete
Tipo de lógica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de suministro 4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits 8
Temperatura de funcionamiento 0°C ~ 70°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / caja 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor 24-SOIC
Peso 0.001 KG
Solicitud Email for details
Repuesto SN74BCT8374ADWRE4

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