製造業者識別番号 | SN74BCT8374ADWRE4 |
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メーカー | Texas Instruments |
製品カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック |
利用可能な数量 | 71500 Pieces |
単価 | メールで見積もり ([email protected]) |
説明 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
鉛フリーステータス/ RoHSステータス | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
湿気感受性レベル(MSL) | 1 (Unlimited) |
生産状況(ライフサイクル) | In Production |
納期 | 1-2 Days |
日付コード(D / C) | New |
データシートダウンロード | SN74BCT8374ADWRE4.pdf |
部品番号 | SN74BCT8374ADWRE4 |
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メーカーリードタイム | 6-8 weeks |
調子 | New & Unused, Original Sealed |
部品ステータス | Obsolete |
ロジックタイプ | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
ビット数 | 8 |
動作温度 | 0°C ~ 70°C |
取付タイプ | Surface Mount |
パッケージ/ケース | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
サプライヤデバイスパッケージ | 24-SOIC |
重量 | 0.001 KG |
応用 | Email for details |
交換部品 | SN74BCT8374ADWRE4 |
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