Texas Instruments Distributeur www.qycomp.com SN74LVTH182512DGGR
Référence fabricantSN74LVTH182512DGGR
FabricantTexas Instruments
catégorie de produitLogique - Logique spécialisée
quantité disponible139750 Pieces
Prix unitaireCitation par email ([email protected])
La descriptionIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Statut sans plomb / Statut RoHSSans plomb / Conforme RoHS
Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) 1 (Unlimited)
Statut de production (cycle de vie)In Production
Heure de livraison1-2 Days
Code de date (D / C)New
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Attributs du produit

Numéro d'article SN74LVTH182512DGGR
Délai d'exécution du fabricant 6-8 weeks
État New & Unused, Original Sealed
État de la pièce Active
Type de logique ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tension d'alimentation 2.7 V ~ 3.6 V
Nombre de bits 18
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Package de périphérique fournisseur 64-TSSOP
Poids 0.001 KG
Application Email for details
Pièce de rechange SN74LVTH182512DGGR

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Texas Instruments Distributeur

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