| 製造業者識別番号 | SN74LVTH182512DGGR |
|---|---|
| メーカー | Texas Instruments |
| 製品カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック |
| 利用可能な数量 | 139750 Pieces |
| 単価 | メールで見積もり ([email protected]) |
| 説明 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| 鉛フリーステータス/ RoHSステータス | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
| 湿気感受性レベル（MSL） | 1 (Unlimited) |
| 生産状況（ライフサイクル） | In Production |
| 納期 | 1-2 Days |
| 日付コード（D / C） | New |
| データシートダウンロード | SN74LVTH182512DGGR.pdf |
| 部品番号 | SN74LVTH182512DGGR |
|---|---|
| メーカーリードタイム | 6-8 weeks |
| 調子 | New & Unused, Original Sealed |
| 部品ステータス | Active |
| ロジックタイプ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| 供給電圧 | 2.7 V ~ 3.6 V |
| ビット数 | 18 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 64-TSSOP |
| 重量 | 0.001 KG |
| 応用 | Email for details |
| 交換部品 | SN74LVTH182512DGGR |
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