製造業者識別番号 | SN74LVTH182512DGGR |
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メーカー | Texas Instruments |
製品カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック |
利用可能な数量 | 139750 Pieces |
単価 | メールで見積もり ([email protected]) |
説明 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
鉛フリーステータス/ RoHSステータス | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
湿気感受性レベル(MSL) | 1 (Unlimited) |
生産状況(ライフサイクル) | In Production |
納期 | 1-2 Days |
日付コード(D / C) | New |
データシートダウンロード | SN74LVTH182512DGGR.pdf |
部品番号 | SN74LVTH182512DGGR |
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メーカーリードタイム | 6-8 weeks |
調子 | New & Unused, Original Sealed |
部品ステータス | Active |
ロジックタイプ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
供給電圧 | 2.7 V ~ 3.6 V |
ビット数 | 18 |
動作温度 | -40°C ~ 85°C |
取付タイプ | Surface Mount |
パッケージ/ケース | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
サプライヤデバイスパッケージ | 64-TSSOP |
重量 | 0.001 KG |
応用 | Email for details |
交換部品 | SN74LVTH182512DGGR |
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