| 製造業者識別番号 | SN74BCT8374ANTG4 |
|---|---|
| メーカー | Texas Instruments |
| 製品カテゴリ | ロジック - 特殊ロジック |
| 利用可能な数量 | 106970 Pieces |
| 単価 | メールで見積もり ([email protected]) |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP |
| 鉛フリーステータス/ RoHSステータス | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
| 湿気感受性レベル（MSL） | 1 (Unlimited) |
| 生産状況（ライフサイクル） | In Production |
| 納期 | 1-2 Days |
| 日付コード（D / C） | New |
| データシートダウンロード | SN74BCT8374ANTG4.pdf |
| 部品番号 | SN74BCT8374ANTG4 |
|---|---|
| メーカーリードタイム | 6-8 weeks |
| 調子 | New & Unused, Original Sealed |
| 部品ステータス | Obsolete |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 取付タイプ | Through Hole |
| パッケージ/ケース | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 24-PDIP |
| 重量 | 0.001 KG |
| 応用 | Email for details |
| 交換部品 | SN74BCT8374ANTG4 |
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