Texas Instruments Distribuidor www.qycomp.com SN74BCT8374ANTG4
Número da peça do fabricanteSN74BCT8374ANTG4
FabricanteTexas Instruments
Categoria de ProdutoLógica - Lógica Especializada
Quantidade disponível106970 Pieces
Preço unitárioCotação por e-mail ([email protected])
DescriçãoIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Status sem chumbo / status de RoHSSem chumbo / RoHS complacente
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) 1 (Unlimited)
Status de produção (ciclo de vida)In Production
Tempo de entrega1-2 Days
Código de Data (D / C)New
Download da folha de dados SN74BCT8374ANTG4.pdf

Atributos do produto

Número da peça SN74BCT8374ANTG4
Tempo de espera do fabricante 6-8 weeks
Condição New & Unused, Original Sealed
Status da Parte Obsolete
Tipo de lógica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação 4.5 V ~ 5.5 V
Número de bits 8
Temperatura de operação 0°C ~ 70°C
Tipo de montagem Through Hole
Pacote / Caso 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pacote de dispositivos de fornecedores 24-PDIP
Peso 0.001 KG
Aplicação Email for details
Peça de reposição SN74BCT8374ANTG4

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