| Hersteller-Teilenummer | 8V18646AIPMREP |
|---|---|
| Hersteller | Texas Instruments |
| Produktkategorie | Schnittstelle - spezialisiert |
| verfügbare Anzahl | 171910 Pieces |
| Stückpreis | Zitat per E-Mail ([email protected]) |
| Beschreibung | IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP |
| Bleifreier Status / RoHS-Status | Bleifrei / RoHS-konform |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Produktionsstatus (Lebenszyklus) | In Production |
| Lieferzeit | 1-2 Days |
| Datumscode (D / C) | New |
| Datenblatt herunterladen | 8V18646AIPMREP.pdf |
| Artikelnummer | 8V18646AIPMREP |
|---|---|
| Hersteller lieferzeit | 6-8 weeks |
| Bedingung | New & Unused, Original Sealed |
| Teilstatus | Obsolete |
| Anwendungen | Circuit Board Testing |
| Schnittstelle | 4-Wire Test Access Port (TAP) |
| Spannungsversorgung | 2.7 V ~ 3.6 V |
| Paket / Fall | 64-LQFP |
| Lieferantengerätepaket | 64-LQFP (10x10) |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Gewicht | 0.001 KG |
| Anwendung | Email for details |
| Ersatzteil | 8V18646AIPMREP |
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