| 製造業者識別番号 | 8V18646AIPMREP |
|---|---|
| メーカー | Texas Instruments |
| 製品カテゴリ | インタフェース - 特殊 |
| 利用可能な数量 | 171910 Pieces |
| 単価 | メールで見積もり ([email protected]) |
| 説明 | IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP |
| 鉛フリーステータス/ RoHSステータス | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
| 湿気感受性レベル（MSL） | 1 (Unlimited) |
| 生産状況（ライフサイクル） | In Production |
| 納期 | 1-2 Days |
| 日付コード（D / C） | New |
| データシートダウンロード | 8V18646AIPMREP.pdf |
| 部品番号 | 8V18646AIPMREP |
|---|---|
| メーカーリードタイム | 6-8 weeks |
| 調子 | New & Unused, Original Sealed |
| 部品ステータス | Obsolete |
| アプリケーション | Circuit Board Testing |
| インタフェース | 4-Wire Test Access Port (TAP) |
| 電圧 - 供給 | 2.7 V ~ 3.6 V |
| パッケージ/ケース | 64-LQFP |
| サプライヤデバイスパッケージ | 64-LQFP (10x10) |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| 重量 | 0.001 KG |
| 応用 | Email for details |
| 交換部品 | 8V18646AIPMREP |
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